某精密仪器制造商在新型微流控芯片生产中发现：关键部件的0.8mm微型流体通道内存在不规则毛刺，导致芯片成品率不足60%。传统检测手段因通道直径过小(入口仅1.4mm)无法深入观察，而拆卸检测又会破坏精密结构。
解决方案
采用WS-K1215WM1.2mm管径工业内窥镜完成以下检测流程：
1.无损介入
通过1.4mm通道入口插入探头，钨丝编织管结构在3次90°折弯后仍保持成像稳定，完整扫描1.2米长的蛇形流道。
2.缺陷定位
使用16万像素摄像头捕捉到3处毛刺(最大高度0.08mm)，并借助三维测量功能量化评估毛刺对流体阻力的影响。
3.修复验证
复检，通过对比图像确认毛刺清除率达100%，芯片成品率提升至98%。
4.技术亮点
超细空间突破：1.2mm探头可进入传统工具无法触及的≤1.5mm孔径，实现360°无死角检测。
复杂环境适应：钨丝编织管结构在5次重复弯曲后仍保持0.1mm级定位精度，满足高频率复检需求。
成本优化效益：单次检测耗时由4小时(拆卸检测)缩短至20分钟，年度维护成本降低42%。
该案例印证了WS-K1215WM工业内窥镜，1.2mm管径设备在微精密制造领域的核心价值，其通过性、耐用性与检测精度的结合，为半导体、精密制造等行业的微米级质量控制提供了新范式。
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